Resumen
ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.
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Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 2003-07Etapa: Norma Internacional confirmada [90.93]
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Edición: 2Número de páginas: 3
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Comité Técnico :ISO/TC 171ICS :37.080
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RetiradaISO 6342:1993
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