No disponible en español

Estado : Publicado (En proceso de revisión)

Esta norma se revisó y confirmó por última vez en 2023. Por lo tanto, esta versión es la actual.
Formato Idioma
PDF
Papel
  • CHF96
Convertir Franco suizo (CHF) a tu moneda

Resumen

ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Standard first page

Preview 

Previsualice esta norma en nuestra Plataforma de navegación en línea (OBP)

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2016-08
    Etapa
    : Norma Internacional confirmada [90.93]
  • Edición
     : 2
    Número de páginas
     : 18
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 4
    ICS :
    37.020 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Got a question?

Check out our FAQs

Customer care
+41 22 749 08 88

Opening hours:
Monday to Friday - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Tienda
  3. Standards catalogue
  4. TC
  5. ISO/TC 202/SC 4
  6. ISO 16700:2016