Numéro de référence
ISO 24173:2009
© ISO 2024
ISO 24173:2009
Analyse par microfaisceaux — Lignes directrices pour la mesure d'orientation par diffraction d'électrons rétrodiffusés
Edition 1
2009-09
Annulée
Annulée (Edition 1, 2009)

Résumé

L'ISO 24173:2009 fournit des recommandations sur la façon de produire des mesures d'orientation cristallographique fiables et reproductibles en utilisant la diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD). Elle aborde les conditions de préparation des échantillons, la configuration de l'instrument, l'étalonnage et l'acquisition des données.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 2009-09
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 45
  • Comité technique :
    ISO/TC 202
    ICS :
    71.040.50 
  • RSS mises à jour

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