Тезис
Describes profiles and the general structure of contact (stylus) instruments for measuring surface roughness and waviness. Specifies the properties of the instrument which influence profile evaluation. Replaces the first edition of ISO 3274:1975 and ISO 1880:1979.
Общая информация
-
Текущий статус: ОпубликованоДата публикации: 1996-12Этап: Международный стандарт подлежит пересмотру [90.92]
-
Версия: 2
-
Технический комитет :ISO/TC 213ICS :17.040.30
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Ранее
ОтозваноISO 1880:1979
ОтозваноISO 3274:1975
-
Сейчас
ОпубликованоISO 3274:1996
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.92 (Будет пересмотрено)-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
Исправления
Исправление текущего издания; предоставляются бесплатно; не включены в текст действующего стандарта.ОпубликованоISO 3274:1996/Cor 1:1998
-
00
-
Будет заменено
В стадии разработкиISO/FDIS 25178-601