ISO 17470:2014
p
ISO 17470:2014
64783
недоступно на русском языке
Текущий статус : Опубликовано (Hа стадии пересмотра)
Последний раз этот стандарт был пересмотрен в  2019. Поэтому данная версия остается актуальной
ru
Формат Язык
std 1 61 PDF + ePub
std 2 61 Бумажный
  • CHF61
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2014-01
    : Подтверждение действия между-народного стандарта [90.93]
  •  : 2
  • ISO/TC 202/SC 2
    71.040.99 
  • RSS обновления

Preview 

Предварительно ознакомьтесь с этим стандартом в нашем Он-лайн библиотека стандартов (OBP)

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)